대구경북과학기술원(DGIST)은 반도체 전문가인 이현준 연구원이 국내 최대 규모의 ICT 전시회 '월드 IT 쇼(WIS) 2026'에서 기술사업화 노력을 인정받아 '과학기술정보통신부 장관 표창'을 받았다고 27일 발표했다. 이현준 연구원은 나노스코프시스템즈와 협력하여 반도체 미세 구조의 열을 정밀하게 관측할 수 있는 분석 기술을 개발하고 성공적으로 상용화했다.
현재 반도체 기술은 고속화와 집적도 증가로 인해 발열 문제가 중요한 과제로 부각되고 있다. 이에 연구팀은 가시광선 영역의 빛 반사율 변화를 이용한 '열반사' 기술을 도입하여 미세한 열을 정밀하게 측정할 수 있는 장비를 국내에서 성공적으로 개발했다. 이 기술은 미국 이후 세계에서 두 번째이자 국내에서 유일한 사례로, 반도체 분석 분야의 기술 발전과 국가 산업 경쟁력 강화에 기여하고 있다.
이현준 연구원은 이러한 기술로 반도체 내부의 미세 발열 위치와 열 전파 과정을 직접 시각적으로 관측할 수 있게 되었다고 설명했다. 또한, DGIST 연구팀은 현재 이 기술에 인공지능(AI)을 접목해 미세 열 신호를 정밀하게 분석하여 반도체 신뢰성 분석, 고장 예측, 공정 최적화 등 다양한 분야에 적용할 계획이라고 밝혔다.